上一個(gè)：
返回列表
服務(wù)熱線(xiàn)
18501309179
18501309179
18501309179
產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心檢測(cè)分析儀器·紫外線(xiàn)系列JC15-TU-1810紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 可見(jiàn)分光光度檢測(cè)儀 可見(jiàn)分光能量光度計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)：JC15-TU-1810
更新時(shí)間：2024-05-21
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量：1109
服務(wù)熱線(xiàn)15313095671
產(chǎn)品分類(lèi)
相關(guān)文章
紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 可見(jiàn)分光光度檢測(cè)儀 可見(jiàn)分光能量光度計(jì)
型號(hào):JC15-TU-1810
技術(shù)參數(shù)：
1、 波長(zhǎng)范圍： 190nm～1100nm
2、 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.3nm(開(kāi)機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn))
3、 波長(zhǎng)重復(fù)性：0.2nm (雙光束比例監(jiān)測(cè)光學(xué)系統(tǒng)) ≤0.1nm(雙光束光學(xué)系統(tǒng))
4、 光譜帶寬： 2nm （固定狹縫） 0.5nm,1.0nm,2.0nm,5.0nm （可變狹縫）
5、 雜散光： <0.3%T(220nm,NaI; 340nm,NaNo2) (雙光束比例監(jiān)測(cè)光學(xué)系統(tǒng))
<0.2%T(220nm,NaI; 340nm,NaNo2) （雙光束光學(xué)系統(tǒng))
6、 光度方式： 透過(guò)率，吸光度，能量
7、 光度范圍： -0.3～3.0Abs
8、 光度準(zhǔn)確度：±0.002Abs(0～0.5Abs)；±0.004Abs(0.5～1.0Abs)；±0.3%T(0～100%T)
9、 光度重復(fù)性：0.001Abs(0～0.5Abs)；0.002Abs(0.5～1.0Abs)；0.15%T(0～100%T)
10、基線(xiàn)平直度：±0.002Abs(190nm～1100nm) (雙光束比例監(jiān)測(cè)光學(xué)系統(tǒng))
±0.0015Abs(190nm～1100nm) (雙光束比例監(jiān)測(cè)光學(xué)系統(tǒng))
11、基線(xiàn)漂移： 0.001Abs/h(500nm, 0Abs預(yù)熱2小時(shí)后) (雙光束比例監(jiān)測(cè)光 學(xué)系統(tǒng))
0.0007Abs/h(500nm, 0Abs預(yù)熱2小時(shí)后) (雙光束光學(xué)系統(tǒng))
12、光度噪聲： ±0.001Abs(500nm,0Abs 2nm光譜帶寬)
主要特點(diǎn)：
1、更準(zhǔn)確的分析:采用全息光柵實(shí)現(xiàn)了低雜散光,使儀器分析更加準(zhǔn)確；
2、更穩(wěn)定的性能:雙光束比例監(jiān)測(cè)/雙光束光學(xué)系統(tǒng)保證了良好的穩(wěn)定性；
3、更快的測(cè)量速度：zui快掃描速度達(dá)到每分鐘1000nm以上；
4、功能更加強(qiáng)大：光度計(jì)主機(jī)不但可獨(dú)立完成光度測(cè)量、定量測(cè)量、光譜掃描、DNA/蛋白質(zhì)測(cè)量及數(shù)據(jù)打印等各種功能，同時(shí)增加了專(zhuān)家數(shù)據(jù)庫(kù)、三圍圖譜分析、GLP實(shí)驗(yàn)室規(guī)范等功能，適用于快速農(nóng)藥殘留檢測(cè)、環(huán)保、檢驗(yàn)檢疫等各個(gè)行業(yè)；
5、操作簡(jiǎn)便人性花設(shè)計(jì)：自動(dòng)化程度高，普通樣品測(cè)量?jī)H需兩次按鍵；
6、維護(hù)更加方便：采用人性化機(jī)械結(jié)構(gòu)及模塊化電器設(shè)計(jì)理念，電器系統(tǒng)維護(hù)更加便捷；插座式鎢燈、氘燈設(shè)計(jì)機(jī)構(gòu)，免去換燈時(shí)光學(xué)調(diào)試步驟；
7、擴(kuò)展性靈活：多種附件可供選擇，儀器測(cè)量范圍更加廣泛；
8、更的*技術(shù)：自動(dòng)八聯(lián)池架可做多樣品測(cè)量，可用于藥物溶出度的6個(gè)樣品測(cè)量等；快速農(nóng)藥殘留檢測(cè)zui多可同時(shí)測(cè)量7個(gè)樣品，大大提高了儀器檢測(cè)速度
北京北信未來(lái)電子科技中心
：王華
：
：
：www.lcs168.com
